Rasterelektronenmikroskopie an Oberflächen

Ansprechpartner:
Dipl.-Ing. J. Eckerich

Zur Werkstoffanalytik gehört auch die Charakterisierung von Oberflächen, sowohl der Oberflächen von Dünnschichten und Formkörpern als auch der Flächen, die beim Bruch entstehen. Bei der Rasterelektronenmikroskopie (REM) werden durch Abtasten von Flächen mit einem Elektronenstrahl Bilder mit hoher Schärfentiefe aufgenommen, die die Rauhigkeit und Strukturierung in dreidimensional wirkender Auflösung darstellen. Vor allem die Bruchflächenanalyse ist wichtig. Man kann sowohl die Flächen von Sprödbrüchen als auch, bei duktilen Materialien, die Rißstrukturen in den Frühstadien des Bruchs sichtbar machen. Die Bruchflächenstrukturen zeigen vor allem bei mehrphasigen und mineralgefüllten Systemen an, wo die Schwachstellen im Material liegen (Schädigungsanalyse).

• Formkörperoberflächen
• Bruchflächen
• Biegeanalyse des Bruchverlaufs

Gerät:

• TOPCON SM-300